>> Leica Microsystems: Cleanliness Expert für quantitative Partikelanalyse
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Halle 1, Stand F 613Für die quantitative Sauberkeitsanalyse von Hochleistungsbauteilen bietet das Unternehmen Leica Microsystems das Komplettsystem Leica Cleanliness Expert. Es besteht aus einem vollautomatisierten Auflichtmikroskop, einer Digitalkamera und einem Bildanalysesystem. Da sowohl Länge und Breite als auch die Höhe der Partikel funktionskritische Parameter sein können, bietet es diese zusätzliche Dimension als Messgrösse. Der Vorteil: Mehr Sicherheit in der Bestimmung der Bauteilsauberkeit. Fasern und Partikel werden im Live-Bild detektiert und können in reflektierend und nicht-reflektierend unterschieden werden. Messparameter und Systemeinstellungen sind vollständig reproduzierbar; alle Veränderungen werden automatisch im Report dokumentiert. Ein Scanning-Algorithmus erlaubt es, Partikel in beliebiger Grösse zu detektieren, in der Ergebnisliste zu reklassifizieren und zu dokumentieren. <<
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