ATE-Technologietag
Do. Am 01. April 2009 laden Konrad Technologies und National Instruments zum neunten Mal gemeinsam zum Technologietag zum Thema automatisierte Testsysteme ein.
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Do. Am 01. April 2009 laden Konrad Technologies und National Instruments zum neunten Mal gemeinsam zum Technologietag zum Thema automatisierte Testsysteme ein.
Die Besucher erwarten in zwei parallelen Vortragsreihen zahlreiche Fachvorträge zu den Themen Funktionstest, In-Circuit Test, Bildverar-beitung sowie zu Halbleiter- und HF-Test oder der Kombination dieser Anwendungsfelder.
Der Technologietag hat den klaren Fokus, die Anwender über flexible, auf die Zukunft ausgerichtete Prüf- und Testtechnologien zu informieren. Eine besondere Rolle spielt auch der Einsatz der FPGA-Technologie, wie sie z.B. in den FlexRIO-Karten von National Instruments zum Einsatz kommt.
Parallel zu den Anwendervorträgen findet eine Fachausstellung namhafter Firmen der Branche statt, welche den Besuchern die Gelegenheit bietet, sich detailliert mit den Experten und Fachleuten der Unternehmen über Technologien und Lösungen auszutauschen. Die Veranstaltung schliesst mit einer Podiumsdiskussion, bei der gezielt Fragen zu den speziellen Fachthemen gestellt werden können.
Veranstaltungsdatum: 1.4.2009Kursort: D-Radolfzell
InformationNational Instruments Switzerland Sonnenbergstrasse 53 5408 EnnetbadenTel. 056 200 51 51Fax 056 200 51 55ni.switzerland@ni.com ni.com/switzerland
