>> Schnelle Messung symmetrischer Teile

Redakteur: Anne Richter

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Abgewickeltes Rasterbild.
Abgewickeltes Rasterbild.
(Bild: Werth Messtechnik)

ari. Mit dem Raster-Scanning «ROT OnTheFly» bietet Werth Messtechnik nun ein extrem schnelles Messverfahren für das Messen komplexer Strukturen auf rotationssymmetrischen Bauteilen an. Ermöglicht wird dieses durch die kontinuierliche Bildaufnahme während der Drehung des Messobjektes durch eine Drehachse. Sonst übliche Start-Stopp-Zyklen des Messgerätes entfallen, da nun an der jeweiligen Messposition ein Blitz das Bild belichtet und dadurch die Bewegungsunschärfe im Bild vernachlässigbar wird. Als positiver Nebeneffekt unterdrückt das Blitzen Fremdlichteinflüsse. Die Einzelbilder werden zu einem abgewickelten Gesamtbild der Mantelfläche des Messobjekts zusammengesetzt. Hierbei wird auch die Taumelbewegung des Werkstücks mikrometergenau berücksichtigt. Das Ergebnis ist ein hochgenaues Bild der kompletten Bauteilmantelfläche. Dieses Bild wird ausgewertet und die Masse werden bestimmt. Werden einige Hundert Merkmale am Werkstück gemessen, kann gegenüber herkömmlichen Verfahren eine Messzeitreduzierung um 90 Prozent oder mehr erreicht werden. Minuten werden so zu Sekunden oder Stunden zu Minuten.

Prinzipiell eignet sich das Messverfahren zur Messung von Geometrien, die auf der Mantelfläche rotationssymmetrischer Körper liegen. Ein Beispiel einer erfolgreichen Anwendung dieser Werth-Technologie ist die Messung der Geometrie von Stents für medizinische Anwendungen, wo die Messzeit durch die neue Technologie deutlich reduziert wurde. Erforderte beispielsweise die stichprobenhafte Messung am Stent bisher mehrere Minuten, wird diese Aufgabe nun in ca. einer Minute gelöst. <<

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